| 品牌：BOYI | 型号：B-TS-501 | 类型：高温冲击试验机 |
| 外形尺寸：1410*2050*1680mm | 重量：870kg | 适用范围：半导体分立器件，桥堆，模块 |
| 加工定制：否 |
高低温冲击试验箱上海高低温冲击试验箱,进口配置,专业制造,性价比和性能比及高的产品,两箱式设备和三箱式设备供客户选择,咨询热线:021-539506091/15221706852刘晓
技术参数
（一）设备名称：高低温冲击箱/冷热冲击试验箱/温度冲击试验箱/
型 号：B-TS-501
*系统符合MIL STD,GB,GJB,JIS,JEDEC,IEC等测试标准.
（二）设备性能参数
1 蓄热区温度范围：+80~200℃
2 蓄冷区温度范围：-10~-80℃
3 测试区温度范围;高温：+60~150℃ 低温：-10~-55℃
4 温度偏差： ±2.0℃
5 温度恢复时间：5分钟内
6 转换时间：8秒内
7 负载：7.5 KG
8 冲击方式：三箱式
备注：测试方法
GB/T 5170.2-1996 温度试验设备，GJB150.5-2001军用设备环境试验方法:温度冲击试验
1 尺寸：
内箱尺寸（W*H*D cm）40*35*35
外箱尺寸（W*H*D cm）141*25*168
2 重量：870KG
备注：* 以上指标均在环境温度为25℃，工作空间空载的条件下测得。
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